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彩色扫描系统
发布时间：2024-12-05     浏览：154次

      D-PIXA-D15彩色线扫描系统：基于彩色表面缺陷高速检测系统，通过立体双目线扫描相机与GPU高速三维算法从多个点观察目标，获取目标物在不同视角下的彩色图像，实现对检测物高精度的三维检测与测量。该系统可辅助企业对半导体元器件、PCB板、手机壳体等产品进行快速准确的精密测量与缺陷定位，实现对缺陷信息的统计、分类和分析，满足企业快速优化生产过程控制的需求。

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